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Samsung SSD 870 EVO 4TB - Reallocated Sectors - Wann ist dies ein Garantiefall?


andber

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Hallo zusammen 
Ich betreibe seit ca. 3 Jahren eine raidz1-0 ZFS SSD Pool mit 6 x  Samsung SSD 870 EVO 4TB

Seit Beginn läuft er eigentlich nicht rund .... immer wieder habe ich Fehlermeldungen beim SCRUB. Konnte ihn aber einigermassen am Leben erhalten. Andere Pools, mit NVME drives und normalen Festplatten haben keine Probleme.

Ich habe mir nun scrutiny installiert um die SMART Statuse zu überwachen und siehe da, da stimmt was gewaltig nicht.

image.thumb.png.ec48b682d452f752d0f238c7106b8616.png

Der Befehl sudo smartctl -a /dev/sda gibt folgendes aus

smartctl 7.4 2023-08-01 r5530 [x86_64-linux-6.8.0-41-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-23, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family:     Samsung based SSDs
Device Model:     Samsung SSD 870 EVO 4TB
Serial Number:    S6BCNG0R502270E
LU WWN Device Id: 5 002538 f715008fb
Firmware Version: SVT01B6Q
User Capacity:    4,000,787,030,016 bytes [4.00 TB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Rotation Rate:    Solid State Device
Form Factor:      2.5 inches
TRIM Command:     Available, deterministic, zeroed
Device is:        In smartctl database 7.3/5528
ATA Version is:   ACS-4 T13/BSR INCITS 529 revision 5
SATA Version is:  SATA 3.3, 6.0 Gb/s (current: 6.0 Gb/s)
Local Time is:    Mon Sep 23 21:02:19 2024 CEST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
AAM feature is:   Unavailable
APM feature is:   Unavailable
Rd look-ahead is: Enabled
Write cache is:   Enabled
DSN feature is:   Unavailable
ATA Security is:  Disabled, frozen [SEC2]
Wt Cache Reorder: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x80) Offline data collection activity
                                        was never started.
                                        Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                                        without error or no self-test has ever 
                                        been run.
Total time to complete Offline 
data collection:                (    0) seconds.
Offline data collection
capabilities:                    (0x53) SMART execute Offline immediate.
                                        Auto Offline data collection on/off support.
                                        Suspend Offline collection upon new
                                        command.
                                        No Offline surface scan supported.
                                        Self-test supported.
                                        No Conveyance Self-test supported.
                                        Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003) Saves SMART data before entering
                                        power-saving mode.
                                        Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                                        General Purpose Logging supported.
Short self-test routine 
recommended polling time:        (   2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:        ( 320) minutes.
SCT capabilities:              (0x003d) SCT Status supported.
                                        SCT Error Recovery Control supported.
                                        SCT Feature Control supported.
                                        SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAGS    VALUE WORST THRESH FAIL RAW_VALUE
  5 Reallocated_Sector_Ct   PO--CK   097   097   010    -    116
  9 Power_On_Hours          -O--CK   097   097   000    -    10960
 12 Power_Cycle_Count       -O--CK   099   099   000    -    116
177 Wear_Leveling_Count     PO--C-   099   099   000    -    24
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot   PO--C-   097   097   010    -    116
181 Program_Fail_Cnt_Total  -O--CK   100   100   010    -    0
182 Erase_Fail_Count_Total  -O--CK   100   100   010    -    0
183 Runtime_Bad_Block       PO--C-   097   097   010    -    116
187 Uncorrectable_Error_Cnt -O--CK   099   099   000    -    1284
190 Airflow_Temperature_Cel -O--CK   071   050   000    -    29
195 ECC_Error_Rate          -O-RC-   199   199   000    -    1284
199 CRC_Error_Count         -OSRCK   100   100   000    -    0
235 POR_Recovery_Count      -O--C-   099   099   000    -    32
241 Total_LBAs_Written      -O--CK   099   099   000    -    77827970952
                            ||||||_ K auto-keep
                            |||||__ C event count
                            ||||___ R error rate
                            |||____ S speed/performance
                            ||_____ O updated online
                            |______ P prefailure warning

General Purpose Log Directory Version 1
SMART           Log Directory Version 1 [multi-sector log support]
Address    Access  R/W   Size  Description
0x00       GPL,SL  R/O      1  Log Directory
0x01           SL  R/O      1  Summary SMART error log
0x02           SL  R/O      1  Comprehensive SMART error log
0x03       GPL     R/O      1  Ext. Comprehensive SMART error log
0x04       GPL,SL  R/O      8  Device Statistics log
0x06           SL  R/O      1  SMART self-test log
0x07       GPL     R/O      1  Extended self-test log
0x09           SL  R/W      1  Selective self-test log
0x10       GPL     R/O      1  NCQ Command Error log
0x11       GPL     R/O      1  SATA Phy Event Counters log
0x13       GPL     R/O      1  SATA NCQ Send and Receive log
0x30       GPL,SL  R/O      9  IDENTIFY DEVICE data log
0x80-0x9f  GPL,SL  R/W     16  Host vendor specific log
0xa1           SL  VS      16  Device vendor specific log
0xa5           SL  VS      16  Device vendor specific log
0xce           SL  VS      16  Device vendor specific log
0xe0       GPL,SL  R/W      1  SCT Command/Status
0xe1       GPL,SL  R/W      1  SCT Data Transfer

SMART Extended Comprehensive Error Log Version: 1 (1 sectors)
Device Error Count: 1284 (device log contains only the most recent 4 errors)
        CR     = Command Register
        FEATR  = Features Register
        COUNT  = Count (was: Sector Count) Register
        LBA_48 = Upper bytes of LBA High/Mid/Low Registers ]  ATA-8
        LH     = LBA High (was: Cylinder High) Register    ]   LBA
        LM     = LBA Mid (was: Cylinder Low) Register      ] Register
        LL     = LBA Low (was: Sector Number) Register     ]
        DV     = Device (was: Device/Head) Register
        DC     = Device Control Register
        ER     = Error register
        ST     = Status register
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.

Error 1284 [3] occurred at disk power-on lifetime: 10581 hours (440 days + 21 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER -- ST COUNT  LBA_48  LH LM LL DV DC
  -- -- -- == -- == == == -- -- -- -- --
  40 -- 51 00 70 00 00 75 ef 1f f4 40 00  Error: UNC at LBA = 0x75ef1ff4 = 1978605556

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FEATR COUNT  LBA_48  LH LM LL DV DC  Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- == -- == -- == == == -- -- -- -- --  ---------------  --------------------
  60 00 f0 00 70 00 00 75 ef 1f f4 40 0e  7d+15:17:32.728  READ FPDMA QUEUED
  60 00 d6 00 38 00 00 75 ef 1f 1e 40 07  7d+15:17:32.728  READ FPDMA QUEUED
  60 00 d6 00 90 00 00 75 ef 1e 48 40 12  7d+15:17:32.728  READ FPDMA QUEUED
  60 00 d6 00 60 00 00 75 ef 1d 72 40 0c  7d+15:17:32.728  READ FPDMA QUEUED
  60 00 d6 00 88 00 00 75 ef 1c 9b 40 11  7d+15:17:32.728  READ FPDMA QUEUED

Error 1283 [2] occurred at disk power-on lifetime: 10516 hours (438 days + 4 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER -- ST COUNT  LBA_48  LH LM LL DV DC
  -- -- -- == -- == == == -- -- -- -- --
  40 -- 51 00 a8 00 00 75 ef 1f f4 40 00  Error: UNC at LBA = 0x75ef1ff4 = 1978605556

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FEATR COUNT  LBA_48  LH LM LL DV DC  Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- == -- == -- == == == -- -- -- -- --  ---------------  --------------------
  60 00 f0 00 a8 00 00 75 ef 1f f4 40 15  4d+22:05:53.196  READ FPDMA QUEUED
  60 00 d6 00 38 00 00 75 ef 1f 1e 40 07  4d+22:05:53.196  READ FPDMA QUEUED
  60 00 d6 00 e0 00 00 75 ef 1e 48 40 1c  4d+22:05:53.196  READ FPDMA QUEUED
  60 00 d6 00 30 00 00 75 ef 1d 72 40 06  4d+22:05:53.196  READ FPDMA QUEUED
  60 00 d6 00 d8 00 00 75 ef 1b c5 40 1b  4d+22:05:53.196  READ FPDMA QUEUED

Error 1282 [1] occurred at disk power-on lifetime: 10505 hours (437 days + 17 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER -- ST COUNT  LBA_48  LH LM LL DV DC
  -- -- -- == -- == == == -- -- -- -- --
  40 -- 51 00 90 00 00 75 ef 20 e4 40 00  Error: UNC at LBA = 0x75ef20e4 = 1978605796

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FEATR COUNT  LBA_48  LH LM LL DV DC  Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- == -- == -- == == == -- -- -- -- --  ---------------  --------------------
  60 00 d6 00 90 00 00 75 ef 20 e4 40 12  4d+11:42:36.429  READ FPDMA QUEUED
  60 00 f0 00 f0 00 00 75 ef 1f f4 40 1e  4d+11:42:36.429  READ FPDMA QUEUED
  60 00 d6 00 00 00 00 75 ef 1f 1e 40 00  4d+11:42:36.429  READ FPDMA QUEUED
  60 00 d6 00 70 00 00 75 ef 1e 48 40 0e  4d+11:42:36.429  READ FPDMA QUEUED
  60 00 d6 00 b8 00 00 75 ef 1c 9b 40 17  4d+11:42:36.429  READ FPDMA QUEUED

Error 1281 [0] occurred at disk power-on lifetime: 10338 hours (430 days + 18 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER -- ST COUNT  LBA_48  LH LM LL DV DC
  -- -- -- == -- == == == -- -- -- -- --
  40 -- 51 00 18 00 01 38 b0 4c 82 40 00  Error: UNC at LBA = 0x138b04c82 = 5246045314

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FEATR COUNT  LBA_48  LH LM LL DV DC  Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- == -- == -- == == == -- -- -- -- --  ---------------  --------------------
  60 00 33 00 18 00 00 38 b0 4c 82 40 03     16:47:07.954  READ FPDMA QUEUED
  60 00 34 00 10 00 00 38 b0 4c 4e 40 02     16:47:07.954  READ FPDMA QUEUED
  60 00 33 00 08 00 00 38 b0 4c 1b 40 01     16:47:07.954  READ FPDMA QUEUED
  60 00 33 00 00 00 00 38 b0 4b e8 40 00     16:47:07.954  READ FPDMA QUEUED
  60 00 33 00 98 00 00 38 b0 4b 81 40 13     16:47:07.954  READ FPDMA QUEUED

SMART Extended Self-test Log Version: 1 (1 sectors)
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Short offline       Completed without error       00%     10429         -
# 2  Extended offline    Aborted by host               90%      4911         -

SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
  256        0    65535  Read_scanning was never started
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

SCT Status Version:                  3
SCT Version (vendor specific):       256 (0x0100)
Device State:                        Active (0)
Current Temperature:                    29 Celsius
Power Cycle Min/Max Temperature:     23/46 Celsius
Lifetime    Min/Max Temperature:     21/50 Celsius
Specified Max Operating Temperature:    70 Celsius
Under/Over Temperature Limit Count:   0/0
SMART Status:                        0xc24f (PASSED)

SCT Temperature History Version:     2
Temperature Sampling Period:         10 minutes
Temperature Logging Interval:        10 minutes
Min/Max recommended Temperature:      0/70 Celsius
Min/Max Temperature Limit:            0/70 Celsius
Temperature History Size (Index):    128 (59)

Index    Estimated Time   Temperature Celsius
  60    2024-09-22 23:50    26  *******
  61    2024-09-23 00:00    26  *******
  62    2024-09-23 00:10    26  *******
  63    2024-09-23 00:20    25  ******
 ...    ..( 73 skipped).    ..  ******
   9    2024-09-23 12:40    25  ******
  10    2024-09-23 12:50    26  *******
 ...    ..( 38 skipped).    ..  *******
  49    2024-09-23 19:20    26  *******
  50    2024-09-23 19:30    27  ********
 ...    ..(  3 skipped).    ..  ********
  54    2024-09-23 20:10    27  ********
  55    2024-09-23 20:20    26  *******
  56    2024-09-23 20:30    27  ********
  57    2024-09-23 20:40    28  *********
  58    2024-09-23 20:50    29  **********
  59    2024-09-23 21:00    29  **********

SCT Error Recovery Control:
           Read: Disabled
          Write: Disabled

Device Statistics (GP Log 0x04)
Page  Offset Size        Value Flags Description
0x01  =====  =               =  ===  == General Statistics (rev 1) ==
0x01  0x008  4             116  ---  Lifetime Power-On Resets
0x01  0x010  4           10960  ---  Power-on Hours
0x01  0x018  6     77827970952  ---  Logical Sectors Written
0x01  0x020  6      4806379445  ---  Number of Write Commands
0x01  0x028  6    367756285030  ---  Logical Sectors Read
0x01  0x030  6      3015277969  ---  Number of Read Commands
0x01  0x038  6         2160000  ---  Date and Time TimeStamp
0x04  =====  =               =  ===  == General Errors Statistics (rev 1) ==
0x04  0x008  4            1284  ---  Number of Reported Uncorrectable Errors
0x04  0x010  4               2  ---  Resets Between Cmd Acceptance and Completion
0x05  =====  =               =  ===  == Temperature Statistics (rev 1) ==
0x05  0x008  1              29  ---  Current Temperature
0x05  0x020  1              50  ---  Highest Temperature
0x05  0x028  1              21  ---  Lowest Temperature
0x05  0x058  1              70  ---  Specified Maximum Operating Temperature
0x06  =====  =               =  ===  == Transport Statistics (rev 1) ==
0x06  0x008  4             862  ---  Number of Hardware Resets
0x06  0x010  4               0  ---  Number of ASR Events
0x06  0x018  4               0  ---  Number of Interface CRC Errors
0x07  =====  =               =  ===  == Solid State Device Statistics (rev 1) ==
0x07  0x008  1               1  N--  Percentage Used Endurance Indicator
                                |||_ C monitored condition met
                                ||__ D supports DSN
                                |___ N normalized value

Pending Defects log (GP Log 0x0c) not supported

SATA Phy Event Counters (GP Log 0x11)
ID      Size     Value  Description
0x0001  2            0  Command failed due to ICRC error
0x0002  2            0  R_ERR response for data FIS
0x0003  2            0  R_ERR response for device-to-host data FIS
0x0004  2            0  R_ERR response for host-to-device data FIS
0x0005  2            0  R_ERR response for non-data FIS
0x0006  2            0  R_ERR response for device-to-host non-data FIS
0x0007  2            0  R_ERR response for host-to-device non-data FIS
0x0008  2            0  Device-to-host non-data FIS retries
0x0009  2        65535+ Transition from drive PhyRdy to drive PhyNRdy
0x000a  2            5  Device-to-host register FISes sent due to a COMRESET
0x000b  2            0  CRC errors within host-to-device FIS
0x000d  2            0  Non-CRC errors within host-to-device FIS
0x000f  2            0  R_ERR response for host-to-device data FIS, CRC
0x0010  2            0  R_ERR response for host-to-device data FIS, non-CRC
0x0012  2            0  R_ERR response for host-to-device non-data FIS, CRC
0x0013  2            0  R_ERR response for host-to-device non-data FIS, non-CRC


 

Die TBW mit ca 100TB Written pro drive liegen weit unterhalb der Grantie von 2400TBW des Herstellers.
Schuld bin ich mir keiner bewusst. keine übermässige Nutzung, Zuerst betrieben in einem UNraid Server. Im Augenblick in einer UbuntuWorkstation an  einem ASUS Rog Strix X570-E Gaming mainboard mit den Onboard sata Anschlüssen. Immer hinter einer UPS, keine Stromspitzen etc.

Nun die Fragen:
- Ist dies ein Garantiefall? -> Die Festplatten haben noch Garantie bis 2.8.2026

- Gibt es "defekte" Serien?

- Mache ich irgend etwas falsch?
 

Wie geht man am besten vor mit einem Lieferanten. Die Disks laufen ja noch . Aber eine grosse Zukunft scheinen sie nicht mehr zu haben.
Was empfehlt ihr mir, bzw. was würdet ihr machen?

Gruss und Danke für die Hilfe!!
Andi

P.S. Gerne kann ich bei Bedarf auch noch die outputs der anderen Drives machen sind alle 6 ähnlich.
 



 

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Ich hatte ein Totalausfall einer 980 Pro 1TB (tot über Nacht). Samsung kontaktiert,die haben eine Webseite dafür.

-Beschreiben was passiert ist oder wo der Fehler liegt

-Fotos hochladen,die wollen erst mal die Kontakte und Siegel sehen ob die nicht gewaltsam beschädigt wurden

-dann beraten die ob dies ein Garantiefall sein könnte

-wenn ja mit UPS nach Holland einschicken (kannst ein Ticket ausdrucken für kostenlosen Versand)

-Mein Garantiefall wurde akzeptiert und nach ein paar Tagen habe ich neuen Ersatz bekommen

-der Ersatz muss nicht zwingend neu sein,heißt es ,und für verlorene Daten bei einer eventuellen Reparatur wird keine Haftung übernommen.

 

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7 minutes ago, Bengon said:

Ich hatte ein Totalausfall einer 980 Pro 1TB (tot über Nacht). Samsung kontaktiert,die haben eine Webseite dafür.

-Beschreiben was passiert ist oder wo der Fehler liegt

-Fotos hochladen,die wollen erst mal die Kontakte und Siegel sehen ob die nicht gewaltsam beschädigt wurden

-dann beraten die ob dies ein Garantiefall sein könnte

-wenn ja mit UPS nach Holland einschicken (kannst ein Ticket ausdrucken für kostenlosen Versand)

-Mein Garantiefall wurde akzeptiert und nach ein paar Tagen habe ich neuen Ersatz bekommen

-der Ersatz muss nicht zwingend neu sein,heißt es ,und für verlorene Daten bei einer eventuellen Reparatur wird keine Haftung übernommen.

 

Ps. Kaufbeleg muss auch vorhanden sein,wenn ich mich recht erinnere muss der Kauf von einem autorisierten Händler sein

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1 hour ago, Bengon said:

Ps. Kaufbeleg muss auch vorhanden sein,wenn ich mich recht erinnere muss der Kauf von einem autorisierten Händler sein

 

In den Samsung Garantiebedingungen steht, daß bei nicht vorliegendem Kaufbeleg die Garantiedauer vom Herstellungsdatum abhängt.

Somit scheint der Kaufbeleg nicht zwingend zu sein.

 

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Danke für die Hilfe!!
Ich habe mich an den Wiederverkäufer in der Schweiz gewendet. Der kann (evt. will) mir auch nicht sagen, ob ich Grantieanspruch habe. Ich muss alles zusammen einsenden und wie ihr bereits gesagt habt beschreiben. Auf der einen Seite möchte ich dass, aber der Aufwand  ist nicht zu unterschätzen. 


Könnt ihr mir sagen (evt. auch einfach abschätzen), ob so viele Fehler bei  "Number of Reported Uncorrectable Errors" und  "Reallocated Sectors Count", etc. überhaupbt Anspruch auf Garantie gibt?
Mir machen die Werte einfach "Angst", die SSD's innerhalb "kurzer" Zeit (natürlich eine Woche nach Garantieablauf) zu verlieren. Ist diese Angst mit obigen Werten begründet? Oder mach ich mir zuviele Sorgen?
Auf etwa 10 anderen ( NVME und SSD Devices von Samsung habe ich NULL Smart Errors ...

Gruss nochmals Dankund bis bald wieder
Andi

P.S. Hier nochmals  die Festplatten des Arrays aus Scrutiny:
sda

image.thumb.png.1059022c710fabf7cfb1c036934410e2.png

sdb
image.thumb.png.788bdb8e3300d1ed8720bff8a3b8d74b.png

sdc

image.thumb.png.1d8ae90b289cd8d5a580c8ac495fbd36.png

sdd

image.thumb.png.f6ec3c0d001e5ea0dfa18d9c2a96a81c.png

sde

image.thumb.png.8a3b1cddc1e194ad2cd5ead892f402e8.png

sdg

image.thumb.png.85c30cbfcd3c779a2f5b7bc78c0fb3cd.png

image.png

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Bei einer HDD würde man bei solchen Werten dringend zum baldigen Austausch raten.

Ich würde es bei einer SSD mindestens genauso, wenn nicht überhaupt dramatischer sehen.

Von allen SSDs die ich je besaß, hatte keine während ihrer gesamten Laufzeit je "Reallocated Sectors" o.ä.

Man möchte meinen, dass es bei rein elektrischen SSDs hier noch weniger Spielraum, als bei mechanischen Elementen, gibt.

Garantiefall ja mit Angabe die Platte wird vom System als entsprechend fehlerhaft erkannt, sollte ja doch uneingeschränkt nutzbar sein.

 

Mit dem Wiederverkäufer würde ich mich hier gar nicht herumärgern (v.a. nach Ablauf einer gesetzlichen Gewährleistung)

Direkt mit dem Händler klären, Scrutiny-Screenshots mitgeben und darauf verweisen dass du eine fehlerfreie SSD brauchst.

 

  • Thanks 1
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@BengonJa alle 6 SSD in dem Array haben Fehler aber schon unterschidliche Anzahlen ... im ersten Screenshot sind einfach "alle" Smartwerte eingeblendet in den unteren nur noch die kritischen.
 
  image.thumb.png.a04e7d23a769dacfe9590411687ac8d4.png

Du meinst wahrscheinlich den Failure Rate von 36% ->  image.png.9386898a0955b0f8a748c90ef200e846.png 

-> ich lese daraus vereinfacht geasgt -> NICHT GUT ..... :)

 

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